Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
Charles Kervrann : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://inria.hal.science/inria-00541107
Soumis le : lundi 29 novembre 2010-18:35:15
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:11
Citer
Anatole Chessel, Bertrand Cinquin, François Waharte, Charles Kervrann, Jean Salamero. A detection based framework for systematic analysis of dual color TIRF microscopy. Focus on Microscopy (FOM'10), Mar 2010, Shangai, China. ⟨inria-00541107⟩
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