Effet photoréfractif dans les cristaux d'oxyde de bismuth et de silicium (Bi12SiO20) ou de germanium (Bi12GeO20) - ParisTech Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Revue de Physique Appliquée Année : 1987

Effet photoréfractif dans les cristaux d'oxyde de bismuth et de silicium (Bi12SiO20) ou de germanium (Bi12GeO20)

Résumé

L'effet photoréfractif permet d'induire optiquement dans les matériaux électro-optiques et photoconducteurs, des variations d'indice en utilisant des faisceaux lumineux de faible puissance. Mis en évidence il y a une vingtaine d'années, ce phénomène a connu un regain d'intérêt grâce à la conjugaison de phase et à ses applications potentielles en traitement optique des images. Dans cet article, et en nous limitant aux cristaux sillénites nous décrirons le mécanisme de cet effet et en préciserons les caractéristiques en régime d'excitation quasi continue puis nanoseconde. Nous évoquerons en conclusion certaines applications liées aux propriétés spécifiques de l'effet photoréfractif.
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Dates et versions

jpa-00245675 , version 1 (04-02-2008)

Identifiants

Citer

Gérald Roosen, Gilles Le Saux, Gilles Pauliat, Michel Allain, Jean-Michel Jonathan, et al.. Effet photoréfractif dans les cristaux d'oxyde de bismuth et de silicium (Bi12SiO20) ou de germanium (Bi12GeO20). Revue de Physique Appliquée, 1987, 22 (10), pp.1253-1267. ⟨10.1051/rphysap:0198700220100125300⟩. ⟨jpa-00245675⟩
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