Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe atomic force microscopy in contact mode - Université Pierre et Marie Curie Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 2005

Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe atomic force microscopy in contact mode

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00320223

Soumis le : mercredi 10 septembre 2008-14:45:23

Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-11:28:54

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Dates et versions

hal-00320223 , version 1 (10-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00320223 , version 1

Citer

Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, René Meyer, Lionel Boyer. Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe atomic force microscopy in contact mode. Applied Physics Letters, 2005, 86, pp.123103. ⟨hal-00320223⟩

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