Interface properties of GaP/Si heterojunction fabricated by PE-ALD - Université Pierre et Marie Curie Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Interface properties of GaP/Si heterojunction fabricated by PE-ALD

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01801489 , version 1 (28-05-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01801489 , version 1

Citer

Alexander S. Gudovskikh, A.V. Uvarov, I.A. Morozov, Artem Baranov, D. A. Kudryashov, et al.. Interface properties of GaP/Si heterojunction fabricated by PE-ALD. EMRS Spring Meeting 2018, Jun 2018, Strasbourg, France. ⟨hal-01801489⟩
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