Chapitre D'ouvrage
Année : 2015
Catherine Cardon : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://insu.hal.science/insu-01154806
Soumis le : samedi 23 mai 2015-18:01:52
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:00
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : insu-01154806 , version 1
Citer
Philippe Pougnet, Pierre-Richard Dahoo, Jean-Loup Alavarez. Highly Accelerated Testing. Abdelkhalak El Hami et Philippe Pougnet. Embedded Mechatronic Systems 2. Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization, Elsevier, Chapter 1, 2015, ISBN : 978-1-78548-014-0. ⟨insu-01154806⟩
Collections
62
Consultations
0
Téléchargements