Dispositif d'étude des surfaces solides ou liquides par réflexion spéculaire des rayons X
Résumé
On décrit un dispositif permettant de tester des modèles de profils de densité au voisinage d'une interface solide (ou liquide) -vapeur. Le principe de la méthode consiste à mesurer, en fonction de l'angle d'attaque (de l'ordre de quelques mrad), l'intensité réfléchie spéculairement par une surface plane lorsque celle-ci reçoit un faisceau de rayons X. On donne quelques exemples d'application.
Origine : Accord explicite pour ce dépôt
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