Caractérisation du seuil de dommages dans les cristaux de saphir dope au titane avec des impulsions nanoseconde, picoseconde et femtoseconde - ENSTA Paris - École nationale supérieure de techniques avancées Paris Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Caractérisation du seuil de dommages dans les cristaux de saphir dope au titane avec des impulsions nanoseconde, picoseconde et femtoseconde

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00084469 , version 1 (07-07-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00084469 , version 1

Citer

F. Canova, J.P. Chambaret, G. Mourou, M. Sentis, O. Uteza, et al.. Caractérisation du seuil de dommages dans les cristaux de saphir dope au titane avec des impulsions nanoseconde, picoseconde et femtoseconde. UVX 2006 : 8ème Colloque sur les Sources Cohérentes et Incohérentes UV, VUV, et X. ; 6-9 Juin, 2006, Colleville-sur-Mer, France. ⟨hal-00084469⟩
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