Article Dans Une Revue
Optical Engineering
Année : 2017
Laurent Gallais : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01586650
Soumis le : mercredi 13 septembre 2017-09:42:48
Dernière modification le : mardi 31 octobre 2023-10:20:11
Citer
Adrien Hervy, Laurent Gallais, Gilles Cheriaux, Daniel Mouricaud. Femtosecond laser-induced damage threshold of electron beam deposited dielectrics for 1-m class optics. Optical Engineering, 2017, 56, pp.011001. ⟨10.1117/1.OE.56.1.011001⟩. ⟨hal-01586650⟩
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