A global optimization for scan chain insertion at the RT-level - Université Pierre et Marie Curie Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

A global optimization for scan chain insertion at the RT-level

Résumé

We present a new method for scan chain ordering specifically tailored for RTL-scan and its unique challenges.
Fichier principal
Vignette du fichier
Zaourar2011.pdf (76.31 Ko) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-01284901 , version 1 (07-10-2022)

Licence

Paternité - Pas d'utilisation commerciale

Identifiants

Citer

Lilia Zaourar, Yann Kieffer, Chouki Aktouf. A global optimization for scan chain insertion at the RT-level. IEEE Annual Symposium on VLSI 2011, Jul 2011, Chennai, India. pp.321-322, ⟨10.1109/ISVLSI.2011.46⟩. ⟨hal-01284901⟩
40 Consultations
13 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More