ESSAIS DE CARACTÉRISATION DE LA SÉGRÉGATION INTERGRANULAIRE DANS LES JOINTS DE GRAINS D'ALLIAGES Ni - Si EN ANALYSE PAR EMISSION X - STEM
Résumé
Nous mettons en évidence la ségrégation du silicium dans les joints de grains du nickel contenant 1,3% de silicium atomique en matrice. La mesure est faite par analyse directe des joints de grains en émission X sur STEM.
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