The technological quality of patents: a graph theoretic approach - ENSTA Paris - École nationale supérieure de techniques avancées Paris Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2021
Fichier non déposé

Dates et versions

halshs-03344198 , version 1 (14-09-2021)

Identifiants

  • HAL Id : halshs-03344198 , version 1

Citer

Didier Lebert, Sana Elouaer-Mrizak. The technological quality of patents: a graph theoretic approach. 16th Annual Conference of the EPIP Association - IP and the Future of Innovation, Sep 2021, Madrid, Spain. ⟨halshs-03344198⟩
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